Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI 300

Прибор предназначен для прецизионного (на атомном уровне) изучения процессов, происходящих на поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума.

Подробнее...